產品資料

螢光X-RAY膜厚儀
產品型號:EX-3000
簡介:

螢光X-RAY膜厚儀特性:1. 采用中文窗口操作系統,操作性簡便。2. 厚度測量極限:分辨率0.001um。3. 可測試項目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學鎳膜厚、 鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、 二層同時測定、元素光譜分析。

特點 規格 影片

螢光X-RAY膜厚儀

特性:
 

1. 采用中文窗口操作系統,操作性簡便。
2. 厚度測量極限:分辨率0.001um。
3. 可測試項目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學鎳膜厚、 鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、 二層同時測定、元素光譜分析。
4. 油浸式微小焦點X線管,50KV管電壓,由上而下垂直照射方式。
5. 采用多頻分析器,可快速處理能譜分析,可執行測定物之能譜分析表示,操作簡單。
6. 濾波器:采用Co、Ni金屬及數字式濾波器,可單一或同時使用。
7. 準直器:采用5種孔徑一體式之Collimator(可設定任意切換方式)。
8. 彩色樣品觀察系統,附有+字刻度線,清楚顯示測定位置。
9. 客戶、各部品番號、批號,可登錄在頻道內,共有300個測量頻道數。
10.自動測定測量臺,可使利用鼠標或搖桿來輸入及調整測定位置,可登錄儲存100組自動測定頻道,可作坐標補正及頻道連結。
11.采用中文窗口作業軟件,設計及打印測量報告,插入測量位置的彩色 圖片、非常容易。
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